Abstracto

Estudios sobre propiedades estructurales, ópticas y eléctricas de películas delgadas de óxido de manganeso (MnO2) depositadas por pulverización

Bhargande SK y Patil PS

Las películas delgadas de óxido de manganeso se prepararon mediante descomposición pirolítica de acetato de manganeso como solución precursora sobre los sustratos de vidrio. Las películas delgadas de MnO2 se depositaron a tres temperaturas diferentes, a saber, 200, 250, 3000 °C. Las películas depositadas eran amorfas y porosas con un espesor de 200-300 nm. Las películas delgadas se recocieron posteriormente a 5000 °C en el aire durante 2 horas. Se han estudiado las propiedades estructurales, ópticas y eléctricas del MnO2. Películas delgadas policristalinas con una estructura cúbica como se evidencia a partir del patrón de difracción de rayos X. Las propiedades eléctricas se han estudiado por medio de mediciones de resistividad eléctrica y potencia termoeléctrica (TEP). Los estudios de resistividad eléctrica se llevaron a cabo utilizando el método de dos sondas. Los estudios de TEP muestran que las películas exhiben conductividad de tipo n. Los datos de absorción óptica se utilizaron para determinar la energía de brecha de banda (indirecta) y se encontró que aumenta con el aumento de la temperatura.