Zhou XJ, Xing Y, Gu Z y Meng GQQG*
Los voltajes de umbral y las corrientes de salida en los MOSHEMT de Al2O3 / AlGaN /GaN se calculan mediante el modelo de control de carga bajo la aproximación de agotamiento total, teniendo en cuenta las cargas fijas en la interfaz Al2O3 / AlGaN y la polarización en cada capa. Los resultados demuestran que los voltajes de umbral se desvían negativamente a medida que aumenta el componente Al en AlGaN y el espesor de cada capa. También se ha descubierto que aumentar el componente Al y el espesor de la capa de Al2O3 da como resultado un aumento significativo en la corriente, mientras que aumentar el espesor de la barrera de AlGaN tiene solo un impacto menor. Estos resultados implican que el rendimiento de los dispositivos MOSHEMT se puede mejorar mediante el cristal mixto ternario y los efectos del tamaño.